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镀层测厚分析仪

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  • ***更新: 2017-05-22 09:49:44
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镀层测厚分析仪详细说明

产品说明、技术参数及配置

 

仪器介绍

 

EXF-5700CX专门研发用于镀层行业的一款仪器,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

 

性能特点

 

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.2mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.01mm

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精细

良好的射线屏蔽作用

 

技术指标

 

型号:EXF-5700CX

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

分析含量一般为ppm99.9%

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为1530

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸: 670(W)x470(D)x370 (H)mm

样品腔尺寸:520(W) mm ×370(D) mm×105(H)mm

重量:60kg

 

标准配置

 

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。


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