上海热成像校准系统作用 欢迎咨询 上海明策供应

靶标是用于测试光电成像系统时创建参考图像的模块。Inframet提供的靶标可分为两类:1)无源靶标，2)有源靶标。无源靶标需要由黑体或标定光源产生均匀光束照射，生成参考图像模式的图像。这些靶标通常是大型测试系统位于平行光管焦平面的小模块。无源靶标的工作不需要电力供应。

版本型号：FUT以下列不同标准尺寸的形式提供：FUT118：辐射源尺寸1100x800mm（11x8个100mm大小正方形区域）；FUT1511：辐射源尺寸1500x1100mm（15x11个100mm大小正方形区域）；FUT2020：辐射源尺寸1900x1900mm（19x19个100mm大小正方形区域）；FUT2216：辐射源尺寸2200x1600mm（22x16个100mm大小正方形区域）。还可以定制化交付不同尺寸和图案的定制化FUT靶标。 热成像新飞跃，基数参数精细校准，夜视能力再提升！上海热成像校准系统作用

InframetMTB面源黑体有优异的温度分辨率，时间稳定性，很高的温度均匀性和优异的温度精度。所有这些功能使MTB系列黑体作为国家标准实验室或工业实验室温度标准的理想选择。

高分辨率的温度调节（0.01ºC，优于市场上其他的黑体，通常这些黑体分辨率为0.1ºC）；非常好的时间稳定性（0.1ºC，优于市场上提供的其他黑体，通常为0.5ºC）；良好的温度均匀性（1ºC@125ºC，市场上其他黑体通常为3ºC@300x300mm）；所有的MTB黑体都由PC使用先进的温度稳定算法进行控制。 上海热成像校准系统作用高效热成像，基数参数精确调校，夜间监控更精确！

TAIM可以对不超过120mm的光学瞄准镜和热夹钳提供扩展的测试和视线。可以使用对从电子输出捕获的图像或从被测设备的显示器捕获的图像进行分析来执行测试。总测试功能:1.蕞小可分辨温差MRTD测量2.图像偏转角度和热像仪夹像旋转测量3.屈光度调节范围、目镜度数和屈光度刻度精度测量4.在电子输出和光学输出（显示器）上测量MTF，NETD，FPN，非均匀性，FOV，失真，放大倍数。注意：噪声参数只在电子输出端测量。选配：1.检查从无限远对焦到短距离对焦是否有图像偏移

ST测试系统使用一系列不同的靶标来投影标准靶标图形到被测试的短波红外相机，短波红外相机生成畸变的靶标图像由计算机采集并由人眼主观或者软件来计算得到短波红外相机的重要参数。ST测试系统包括了反射式平行光管，带宽光源，中温黑体，旋转靶轮，一组靶标，一组滤波片，PC，图像采集卡以及测试软件组成。

特征：一、支持模拟三种不同的情况：1）反射多色辐射结构（系统采用SAL光源）；2）发射辐射配置（系统采用MTB中温黑体）；3）单色光源配置（SAL光源配置带通滤波器）。二、支持测试光学口径不大于100mm短波红外相机；三、支持模拟很暗的夜晚环境以及很亮的白天环境；四、支持模拟目标的温度可达600oC；五、模块:CDT1000平行光管，SAL光源，MTB-2D中温黑体，MRW-8旋转靶轮，一组靶标，1550nm带通滤波片，图像采集卡，MTB控制程序，SAL控制程序，TAS-S程序； 科技守护，INFRAMET LAFT 热成像光电测试系统，，让夜间监控如白昼般清晰！

ORI光学镜头测试系统是一台通用型光学镜头测试系统。该系统可以测量镜头的所有重要参数：MTF，分辨率，EFL，畸变，渐晕，透过率，BFL，工作焦距，焦深，场曲，色差等。可测试波段涵盖了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR，也可用于测试多波段光学系统，列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。系统原理ORI测试系统原理：目标发生器放置在被测镜头的焦平面上形成一套投影系统，透射出的平行光入射平行光管，蕞终成像到相机的接收面上。ORI测试系统蕞大的特点是采用逆光路测量原理，较一般正光路的测量系统具有独特的优势。智能校准，热成像更稳定可靠，基数参数调整，安全加倍！上海热成像校准系统作用

精确定位，无惧暗夜——NVS夜视设备多功能测试系统，优化基数参数，让监控更可靠！上海热成像校准系统作用

BLIQ黑体作为TCB系列特殊版本，可以弥补TCB其他型号的不足：大尺寸面源，需要降温到零下-40℃的温度。BLIQ也有一些限制条件：需要连接BLIQ黑体的安全罩（Inframet可提供）。覆盖罩须装充有干燥的氮气，以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝。用户需要提供干燥的氮气。安全罩不能有任何漏洞以免潮湿热气体进入罩内。测试成像仪的光学镜头必须完全覆盖在罩中的输入孔中。罩长必须至少等于黑体发射面的大小。这意味着被测试的成像仪不能位于距BLIQ黑体发射器很短的距离。上海热成像校准系统作用