您所在的位置:首页 » 上海光电测试系统供应 欢迎咨询 上海明策供应

上海光电测试系统供应 欢迎咨询 上海明策供应

上传时间:2025-03-22 浏览次数:
文章摘要:FAPA是一个准通用系统,用于扩展控制/测试红外FPA传感器,专门为进行此类图像传感器开发研究的科学机构使用而优化。它主要用于测试完整的红外FPA传感器(带有读出电子器件的探测器阵列)和热成像仪中心,但也可以测量原始红外FPA传感

FAPA是一个准通用系统,用于扩展控制/测试红外FPA传感器,专门为进行此类图像传感器开发研究的科学机构使用而优化。它主要用于测试完整的红外FPA传感器(带有读出电子器件的探测器阵列)和热成像仪中心,但也可以测量原始红外FPA传感器的一些关键参数(与ROIC集成之前)。此外,FAPA还可以选择用于测试完整的热成像仪。这样,FAPA就可以成为评估红外FPA传感器生命周期中任何阶段的宝贵工具:原始红外FPA红外传感器、红外FPA传感器、热成像仪**、热成像仪。

FAPA是一个模块化系统,由一系列模块组成,可以配置为创建一系列不同的子系统,用于测量不同参数组。然而,FAPA的所有模块基本上可以分为三类(块):1.放射性测量工具,2.传感器控制/图像处理工具,3.图像采集/计算工具。 光电测试技术,提升家具制造精度与美观度。上海光电测试系统供应

上海光电测试系统供应,光电测试系统

TCB系列黑体是差分面源黑体,旨在模拟低温和适宜的常温目标。使用热电元件控制散热器温度。黑体散热器的温度通常从0℃至100℃可调节,但范围可扩展到-40℃至180℃。黑体发射面(从50x50mm到500x500mm),也可以拓展到更大的发射器,高达1000x1000mm的尺寸。

用于典型温度范围为0℃至100℃的小型50x50mm发射面的TCB-2D黑体被用作测试热像仪的DT/MS系统的模块。具有更大发射面和其他温度范围的黑体都可以作为其他各种应用的单独模块提供。

Inframet可以提供高达500x500mm的发射面的TCB黑体(型号TCB-2oD)。但是,应该注意的是,典型的小黑体TCB-2D/TCB-4D黑体与TCB-12D/TCB-2OD之间存在很大差异。后者的黑体要大得多,需要更大的功率,升温更慢,更昂贵。因此建议您选择自己合适的发射面尺寸即可。 上海光电测试系统作用光电技术,为智能交通系统提供可靠信号检测。

上海光电测试系统供应,光电测试系统

FUT靶标为棋盘型靶标,采用大面积、均匀温度的辐射源,经表面加工后在高发射率背景下实现低发射率。FUT靶标尺寸较大,能够完全填充被测融合成像系统的视野。利用热像仪和可见光/近红外成像传感器对FUT靶标进行图像采集,为有效的图像融合提供了必要的数据。FUT靶标是一种均匀加热的靶标,通常不能够进行调节高温度。操作较为简单,插上电源加热十几分钟稳定后就可进行使用。

测试功能:FUT靶标可以用于以下测试:•对准误差(热通道光轴相对于可见光通道光轴的角度)•旋转误差(热通道图像与可见通道图像之间的角度)•热成像通道图像相对于可见成像通道图像的二维空间位移图(与另一通道中的同一像素相比,像素的位移量和位移方向的信息)•热像仪分辨率测试

BLIQ黑体是使用三个温度调节器构建的。

首先,标准Peltier元件能够在约0ºC至约100ºC范围内实现准确的温度调节。

第二,液体冷却器用于将黑体温度降低到零度以下。

第三,当温度超过100ºC时,可选加热器进行调节温度。BLIQ黑体附有专业用罩。当使用干燥氮气填充时,该罩可以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝的影响。BLIQ黑体的特点是具有优异的温度分辨率、时间稳定性、温度均匀性和温度不确定性。所有这些功能使得BLIQ黑体被用作测试/校准热成像仪/IRFPA模块系统中的红外辐射源的理想选择,或国家标准实验室的温度标准。 INFRAMET SAFT 热成像光电测试系统,精确赋能制造业,提升质量检测效率。

上海光电测试系统供应,光电测试系统

LAFT移动式热像仪测试系统,可以将目标图像直接投射到被测热像仪。热像仪输出对应图像,根据图像即可评价热像仪的性能。推荐在外场条件下使用LAFT,如果在实验室/仓库条件下,此时可以使用长走廊作为测试场所。在适当的测量条件下,LAFT测试系统的测量精度与实验室级DT系列测试系统的测量精度相同。野外和实验室内应用的多功能测量工具可以装在箱子里运输到任何地方可以同时测量几个热像仪(同时投影到几个热像仪上成像)

产品参数

LAFT-A:MRTD,MDTDLAFT-B:MRTD,MDTD,MTF,NETD,FPN,非均匀性,SiTF,畸变,FOV,部分轮廓靶的探测、识别和辨别 光电技术,应用于铁路维护,保障行车安全。上海光电测试系统供应

明策光电测试系统,提升钟表制造业走时精确度。上海光电测试系统供应

JT400轴对准测试系统外观图Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试,也支持轴对准测试。然而,MS系列测试系统是相对昂贵的测试系统。JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统,用于**的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。

测试功能:1.不同视场的热像仪的轴对准;2.不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准;3.可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准;4.激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准;5.激光测距机与热像仪之间的轴对准;6.激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准;7.可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度;8.热像仪的分辨率;9.激光测距机的发散角;10.参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。 上海光电测试系统供应

上海明策电子科技有限公司
联系人:余兰
咨询电话:021-52966696
咨询手机:18917639396
咨询邮箱:hui.kang@monchtec.com
公司地址:上海市金山区枫泾镇环东一路65弄13号1229室

免责声明: 本页面所展现的信息及其他相关推荐信息,均来源于其对应的商铺,信息的真实性、准确性和合法性由该信息的来源商铺所属企业完全负责。本站对此不承担任何保证责任。如涉及作品内容、 版权和其他问题,请及时与本网联系,我们将核实后进行删除,本网站对此声明具有最终解释权。

友情提醒: 建议您在购买相关产品前务必确认资质及产品质量,过低的价格有可能是虚假信息,请谨慎对待,谨防上当受骗。

上一条: 暂无 下一条: 暂无

图片新闻

  • 暂无信息!